根據(jù)最新信息《Microelectronic Engineering》期刊在JCR分區(qū)中的排名如下：
按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū)學(xué)科為ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，收錄子集：SCIE，位于Q2區(qū)，排名157 / 352，百分位55.5%；NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY，收錄子集：SCIE，位于Q3區(qū)，排名94 / 140，百分位33.2%；OPTICS，收錄子集：SCIE，位于Q2區(qū)，排名45 / 119，百分位62.6%；PHYSICS, APPLIED，收錄子集：SCIE，位于Q2區(qū)，排名81 / 179，百分位55%；按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū)在學(xué)科為ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，收錄子集：SCIE，位于Q3區(qū)，排名179 / 354，百分位49.58%NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY，收錄子集：SCIE，位于Q3區(qū)，排名74 / 140，百分位47.5%OPTICS，收錄子集：SCIE，位于Q3區(qū)，排名64 / 120，百分位47.08%PHYSICS, APPLIED，收錄子集：SCIE，位于Q2區(qū)，排名88 / 179，百分位51.12%。
投稿咨詢| 按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q2 | 157 / 352 |
55.5% |
| 學(xué)科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q3 | 94 / 140 |
33.2% |
| 學(xué)科：OPTICS | SCIE | Q2 | 45 / 119 |
62.6% |
| 學(xué)科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q2 | 81 / 179 |
55% |
| 按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 179 / 354 |
49.58% |
| 學(xué)科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q3 | 74 / 140 |
47.5% |
| 學(xué)科：OPTICS | SCIE | Q3 | 64 / 120 |
47.08% |
| 學(xué)科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q2 | 88 / 179 |
51.12% |
這表明該刊在工程：電子與電氣領(lǐng)域具有較高的學(xué)術(shù)影響力和認(rèn)可度。此外，該刊創(chuàng)刊時(shí)間：1983年，影響因子：2.6，出版周期：Monthly、出版商：Elsevier以及收錄情況等信息也為其學(xué)術(shù)影響力提供了有力支持。
影響因子：是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報(bào)告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項(xiàng)數(shù)據(jù)，現(xiàn)已成為國際上通用的期刊評價(jià)指標(biāo)，不僅是一種測度期刊有用性和顯示度的指標(biāo)，而且也是測度期刊的學(xué)術(shù)水平，乃至論文質(zhì)量的重要指標(biāo)。
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