根據(jù)最新信息《Materials Science In Semiconductor Processing》期刊在JCR分區(qū)中的排名如下：
按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū)學(xué)科為ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，收錄子集：SCIE，位于Q2區(qū)，排名89 / 352，百分位74.9%；MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY，收錄子集：SCIE，位于Q2區(qū)，排名158 / 438，百分位64%；PHYSICS, APPLIED，收錄子集：SCIE，位于Q2區(qū)，排名51 / 179，百分位71.8%；PHYSICS, CONDENSED MATTER，收錄子集：SCIE，位于Q2區(qū)，排名25 / 79，百分位69%；按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū)在學(xué)科為ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，收錄子集：SCIE，位于Q2區(qū)，排名113 / 354，百分位68.22%MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY，收錄子集：SCIE，位于Q2區(qū)，排名125 / 438，百分位71.58%PHYSICS, APPLIED，收錄子集：SCIE，位于Q2區(qū)，排名47 / 179，百分位74.02%PHYSICS, CONDENSED MATTER，收錄子集：SCIE，位于Q1區(qū)，排名19 / 79，百分位76.58%。
投稿咨詢| 按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q2 | 89 / 352 |
74.9% |
| 學(xué)科：MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY | SCIE | Q2 | 158 / 438 |
64% |
| 學(xué)科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q2 | 51 / 179 |
71.8% |
| 學(xué)科：PHYSICS, CONDENSED MATTER | SCIE | Q2 | 25 / 79 |
69% |
| 按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q2 | 113 / 354 |
68.22% |
| 學(xué)科：MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY | SCIE | Q2 | 125 / 438 |
71.58% |
| 學(xué)科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q2 | 47 / 179 |
74.02% |
| 學(xué)科：PHYSICS, CONDENSED MATTER | SCIE | Q1 | 19 / 79 |
76.58% |
這表明該刊在工程：電子與電氣領(lǐng)域具有較高的學(xué)術(shù)影響力和認(rèn)可度。此外，該刊創(chuàng)刊時(shí)間：1998年，影響因子：4.2，出版周期：Bimonthly、出版商：Elsevier Ltd以及收錄情況等信息也為其學(xué)術(shù)影響力提供了有力支持。
影響因子：是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報(bào)告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項(xiàng)數(shù)據(jù)，現(xiàn)已成為國(guó)際上通用的期刊評(píng)價(jià)指標(biāo)，不僅是一種測(cè)度期刊有用性和顯示度的指標(biāo)，而且也是測(cè)度期刊的學(xué)術(shù)水平，乃至論文質(zhì)量的重要指標(biāo)。
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