根據(jù)最新信息《Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems》期刊在JCR分區(qū)中的排名如下：
按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū)學(xué)科為COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE，收錄子集：SCIE，位于Q2區(qū)，排名23 / 59，百分位61.9%；ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，收錄子集：SCIE，位于Q2區(qū)，排名151 / 352，百分位57.2%；按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū)在學(xué)科為COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE，收錄子集：SCIE，位于Q2區(qū)，排名26 / 59，百分位56.78%ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，收錄子集：SCIE，位于Q2區(qū)，排名149 / 354，百分位58.05%。
投稿咨詢| 按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE | SCIE | Q2 | 23 / 59 |
61.9% |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q2 | 151 / 352 |
57.2% |
| 按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE | SCIE | Q2 | 26 / 59 |
56.78% |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q2 | 149 / 354 |
58.05% |
這表明該刊在計算機：硬件領(lǐng)域具有較高的學(xué)術(shù)影響力和認可度。此外，該刊創(chuàng)刊時間：1993年，影響因子：2.8，出版周期：Bimonthly、出版商：Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.以及收錄情況等信息也為其學(xué)術(shù)影響力提供了有力支持。
影響因子：是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項數(shù)據(jù)，現(xiàn)已成為國際上通用的期刊評價指標(biāo)，不僅是一種測度期刊有用性和顯示度的指標(biāo)，而且也是測度期刊的學(xué)術(shù)水平，乃至論文質(zhì)量的重要指標(biāo)。
聲明：以上信息摘自網(wǎng)絡(luò)公開資料，如有不準確，請聯(lián)系我們。
影響因子：2.8
大類學(xué)科：工程技術(shù)
中科院：2區(qū)