根據(jù)最新信息《Microelectronics Reliability》期刊在JCR分區(qū)中的排名如下：
按JIF指標學科分區(qū)學科為ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，收錄子集：SCIE，位于Q3區(qū)，排名239 / 352，百分位32.2%；NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY，收錄子集：SCIE，位于Q4區(qū)，排名113 / 140，百分位19.6%；PHYSICS, APPLIED，收錄子集：SCIE，位于Q3區(qū)，排名131 / 179，百分位27.1%；按JCI指標學科分區(qū)在學科為ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，收錄子集：SCIE，位于Q4區(qū)，排名272 / 354，百分位23.31%NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY，收錄子集：SCIE，位于Q4區(qū)，排名114 / 140，百分位18.93%PHYSICS, APPLIED，收錄子集：SCIE，位于Q4區(qū)，排名140 / 179，百分位22.07%。
投稿咨詢| 按JIF指標學科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 239 / 352 |
32.2% |
| 學科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q4 | 113 / 140 |
19.6% |
| 學科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q3 | 131 / 179 |
27.1% |
| 按JCI指標學科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q4 | 272 / 354 |
23.31% |
| 學科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q4 | 114 / 140 |
18.93% |
| 學科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q4 | 140 / 179 |
22.07% |
這表明該刊在工程：電子與電氣領域具有較高的學術影響力和認可度。此外，該刊創(chuàng)刊時間：1964年，影響因子：1.6，出版周期：Monthly、出版商：Elsevier Ltd以及收錄情況等信息也為其學術影響力提供了有力支持。
影響因子：是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項數(shù)據(jù)，現(xiàn)已成為國際上通用的期刊評價指標，不僅是一種測度期刊有用性和顯示度的指標，而且也是測度期刊的學術水平，乃至論文質(zhì)量的重要指標。
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