根據(jù)最新信息《Surface Topography-metrology And Properties》期刊在JCR分區(qū)中的排名如下：
按JIF指標學科分區(qū)學科為ENGINEERING, MECHANICAL，收錄子集：SCIE，位于Q2區(qū)，排名88 / 180，百分位51.4%；INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION，收錄子集：SCIE，位于Q3區(qū)，排名40 / 76，百分位48%；MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY，收錄子集：SCIE，位于Q3區(qū)，排名292 / 438，百分位33.4%；按JCI指標學科分區(qū)在學科為ENGINEERING, MECHANICAL，收錄子集：SCIE，位于Q2區(qū)，排名84 / 180，百分位53.61%INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION，收錄子集：SCIE，位于Q3區(qū)，排名41 / 76，百分位46.71%MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY，收錄子集：SCIE，位于Q3區(qū)，排名232 / 438，百分位47.15%。
投稿咨詢| 按JIF指標學科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學科：ENGINEERING, MECHANICAL | SCIE | Q2 | 88 / 180 |
51.4% |
| 學科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q3 | 40 / 76 |
48% |
| 學科：MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY | SCIE | Q3 | 292 / 438 |
33.4% |
| 按JCI指標學科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學科：ENGINEERING, MECHANICAL | SCIE | Q2 | 84 / 180 |
53.61% |
| 學科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q3 | 41 / 76 |
46.71% |
| 學科：MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY | SCIE | Q3 | 232 / 438 |
47.15% |
這表明該刊在工程：機械領域具有較高的學術影響力和認可度。此外，該刊創(chuàng)刊時間：2013年，影響因子：2，出版周期：4 issues/year、出版商：IOP Publishing Ltd.以及收錄情況等信息也為其學術影響力提供了有力支持。
影響因子：是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項數(shù)據(jù)，現(xiàn)已成為國際上通用的期刊評價指標，不僅是一種測度期刊有用性和顯示度的指標，而且也是測度期刊的學術水平，乃至論文質(zhì)量的重要指標。
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