根據(jù)最新信息《Ieee Journal Of Selected Topics In Applied Earth Observations And Remote Sensing》期刊在JCR分區(qū)中的排名如下：
按JIF指標學(xué)科分區(qū)學(xué)科為ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，收錄子集：SCIE，位于Q1區(qū)，排名73 / 352，百分位79.4%；GEOGRAPHY, PHYSICAL，收錄子集：SCIE，位于Q1區(qū)，排名7 / 65，百分位90%；IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY，收錄子集：SCIE，位于Q1區(qū)，排名8 / 36，百分位79.2%；REMOTE SENSING，收錄子集：SCIE，位于Q1區(qū)，排名12 / 62，百分位81.5%；按JCI指標學(xué)科分區(qū)在學(xué)科為ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，收錄子集：SCIE，位于Q1區(qū)，排名77 / 354，百分位78.39%GEOGRAPHY, PHYSICAL，收錄子集：SCIE，位于Q1區(qū)，排名11 / 65，百分位83.85%IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY，收錄子集：SCIE，位于Q1區(qū)，排名8 / 36，百分位79.17%REMOTE SENSING，收錄子集：SCIE，位于Q1區(qū)，排名12 / 62，百分位81.45%。
投稿咨詢| 按JIF指標學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q1 | 73 / 352 |
79.4% |
| 學(xué)科：GEOGRAPHY, PHYSICAL | SCIE | Q1 | 7 / 65 |
90% |
| 學(xué)科：IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY | SCIE | Q1 | 8 / 36 |
79.2% |
| 學(xué)科：REMOTE SENSING | SCIE | Q1 | 12 / 62 |
81.5% |
| 按JCI指標學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q1 | 77 / 354 |
78.39% |
| 學(xué)科：GEOGRAPHY, PHYSICAL | SCIE | Q1 | 11 / 65 |
83.85% |
| 學(xué)科：IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY | SCIE | Q1 | 8 / 36 |
79.17% |
| 學(xué)科：REMOTE SENSING | SCIE | Q1 | 12 / 62 |
81.45% |
這表明該刊在成像科學(xué)與照相技術(shù)領(lǐng)域具有較高的學(xué)術(shù)影響力和認可度。此外，該刊創(chuàng)刊時間：2008年，影響因子：4.7，出版周期：Monthly、出版商：Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.以及收錄情況等信息也為其學(xué)術(shù)影響力提供了有力支持。
影響因子：是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項數(shù)據(jù)，現(xiàn)已成為國際上通用的期刊評價指標，不僅是一種測度期刊有用性和顯示度的指標，而且也是測度期刊的學(xué)術(shù)水平，乃至論文質(zhì)量的重要指標。
聲明：以上信息摘自網(wǎng)絡(luò)公開資料，如有不準確，請聯(lián)系我們。
影響因子：4.7
大類學(xué)科：地球科學(xué)
中科院：2區(qū)