《Ieee Geoscience And Remote Sensing Letters》雜志的影響因子為4。
影響因子：是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報(bào)告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項(xiàng)數(shù)據(jù)，現(xiàn)已成為國(guó)際上通用的期刊評(píng)價(jià)指標(biāo)，不僅是一種測(cè)度期刊有用性和顯示度的指標(biāo)，而且也是測(cè)度期刊的學(xué)術(shù)水平，乃至論文質(zhì)量的重要指標(biāo)。
以下是如何查看影響因子的幾種方法：
一、通過(guò)專業(yè)數(shù)據(jù)庫(kù)查詢
1. 通過(guò)Web of Science數(shù)據(jù)庫(kù)查詢：Web of Science是一個(gè)權(quán)威的學(xué)術(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)，提供期刊影響因子的官方數(shù)據(jù)。
2.中國(guó)知網(wǎng)（CNKI）：在CNKI中，用戶可以通過(guò)期刊導(dǎo)航功能搜索目標(biāo)期刊，并在期刊詳情頁(yè)面查看其影響因子。
3.使用JCR：JCR是專門提供期刊引證報(bào)告的工具，隸屬于Web of Science。
二、查閱學(xué)術(shù)期刊官方網(wǎng)站
許多學(xué)術(shù)期刊會(huì)在其官方網(wǎng)站上公布最新的影響因子數(shù)據(jù)。
三、參考學(xué)術(shù)權(quán)威指南和排名
影響因子是一個(gè)動(dòng)態(tài)變化的指標(biāo)，會(huì)隨著時(shí)間的推移而發(fā)生變化。因此，在查看影響因子時(shí)，需要關(guān)注其發(fā)布的時(shí)間點(diǎn)。
《Ieee Geoscience And Remote Sensing Letters》雜志創(chuàng)刊于2004年，由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版商出版，出版周期為Quarterly，國(guó)際簡(jiǎn)稱為IEEE GEOSCI REMOTE S，中文名稱IEEE地球科學(xué)與遙感快報(bào)。該雜志旨在及時(shí)、準(zhǔn)確、全面地報(bào)道國(guó)內(nèi)外工程技術(shù)-地球化學(xué)與地球物理領(lǐng)域取得的最新研究成果、工作進(jìn)展及學(xué)術(shù)動(dòng)態(tài)、技術(shù)革新等，促進(jìn)學(xué)術(shù)交流，鼓勵(lì)學(xué)術(shù)創(chuàng)新。
《Ieee Geoscience And Remote Sensing Letters》雜志分區(qū)情況
中科院分區(qū)：在中科院最新升級(jí)版分區(qū)表中，大類學(xué)科地球科學(xué)位于3區(qū)，小類學(xué)科ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：電子與電氣位于3區(qū)。
JCR分區(qū)：根據(jù)最新JCR分區(qū)， 按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū)中學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，位于Q2區(qū)，排名100 / 352，百分位71.7%；GEOCHEMISTRY & GEOPHYSICS，位于Q1區(qū)，排名11 / 101，百分位89.6%；IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY，位于Q2區(qū)，排名12 / 36，百分位68.1%；REMOTE SENSING，位于Q2區(qū)，排名18 / 62，百分位71.8%； 按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū)中學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，位于Q2區(qū)，排名89 / 354，百分位75%。GEOCHEMISTRY & GEOPHYSICS，位于Q1區(qū)，排名17 / 101，百分位83.66%。IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY，位于Q1區(qū)，排名9 / 36，百分位76.39%。REMOTE SENSING，位于Q1區(qū)，排名13 / 62，百分位79.84%。
投稿咨詢| 按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q2 | 100 / 352 |
71.7% |
| 學(xué)科：GEOCHEMISTRY & GEOPHYSICS | SCIE | Q1 | 11 / 101 |
89.6% |
| 學(xué)科：IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY | SCIE | Q2 | 12 / 36 |
68.1% |
| 學(xué)科：REMOTE SENSING | SCIE | Q2 | 18 / 62 |
71.8% |
| 按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q2 | 89 / 354 |
75% |
| 學(xué)科：GEOCHEMISTRY & GEOPHYSICS | SCIE | Q1 | 17 / 101 |
83.66% |
| 學(xué)科：IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY | SCIE | Q1 | 9 / 36 |
76.39% |
| 學(xué)科：REMOTE SENSING | SCIE | Q1 | 13 / 62 |
79.84% |
《Ieee Geoscience And Remote Sensing Letters》雜志評(píng)價(jià)數(shù)據(jù)
影響因子：4
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