根據(jù)最新信息《Ieee Transactions On Pattern Analysis And Machine Intelligence》期刊在JCR分區(qū)中的排名如下：
按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū)學(xué)科為COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE，收錄子集：SCIE，位于Q1區(qū)，排名2 / 197，百分位99.2%；ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，收錄子集：SCIE，位于Q1區(qū)，排名3 / 352，百分位99.3%；按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū)在學(xué)科為COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE，收錄子集：SCIE，位于Q1區(qū)，排名3 / 198，百分位98.74%ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，收錄子集：SCIE，位于Q1區(qū)，排名2 / 354，百分位99.58%。
投稿咨詢| 按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE | SCIE | Q1 | 2 / 197 |
99.2% |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q1 | 3 / 352 |
99.3% |
| 按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE | SCIE | Q1 | 3 / 198 |
98.74% |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q1 | 2 / 354 |
99.58% |
這表明該刊在計算機(jī)：人工智能領(lǐng)域具有較高的學(xué)術(shù)影響力和認(rèn)可度。此外，該刊創(chuàng)刊時間：1979年，影響因子：20.8，出版周期：Monthly、出版商：IEEE Computer Society以及收錄情況等信息也為其學(xué)術(shù)影響力提供了有力支持。
影響因子：是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項數(shù)據(jù)，現(xiàn)已成為國際上通用的期刊評價指標(biāo)，不僅是一種測度期刊有用性和顯示度的指標(biāo)，而且也是測度期刊的學(xué)術(shù)水平，乃至論文質(zhì)量的重要指標(biāo)。
聲明：以上信息摘自網(wǎng)絡(luò)公開資料，如有不準(zhǔn)確，請聯(lián)系我們。
影響因子：20.8
大類學(xué)科：計算機(jī)科學(xué)
中科院：1區(qū)