根據(jù)最新信息《Ieee Transactions On Reliability》期刊在JCR分區(qū)中的排名如下：
按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū)學(xué)科為COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE，收錄子集：SCIE，位于Q1區(qū)，排名8 / 59，百分位87.3%；COMPUTER SCIENCE, SOFTWARE ENGINEERING，收錄子集：SCIE，位于Q1區(qū)，排名13 / 131，百分位90.5%；ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，收錄子集：SCIE，位于Q1區(qū)，排名65 / 352，百分位81.7%；按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū)在學(xué)科為COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE，收錄子集：SCIE，位于Q1區(qū)，排名7 / 59，百分位88.98%COMPUTER SCIENCE, SOFTWARE ENGINEERING，收錄子集：SCIE，位于Q1區(qū)，排名14 / 131，百分位89.69%ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，收錄子集：SCIE，位于Q1區(qū)，排名42 / 354，百分位88.28%。
投稿咨詢| 按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE | SCIE | Q1 | 8 / 59 |
87.3% |
| 學(xué)科：COMPUTER SCIENCE, SOFTWARE ENGINEERING | SCIE | Q1 | 13 / 131 |
90.5% |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q1 | 65 / 352 |
81.7% |
| 按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE | SCIE | Q1 | 7 / 59 |
88.98% |
| 學(xué)科：COMPUTER SCIENCE, SOFTWARE ENGINEERING | SCIE | Q1 | 14 / 131 |
89.69% |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q1 | 42 / 354 |
88.28% |
這表明該刊在計(jì)算機(jī)：硬件領(lǐng)域具有較高的學(xué)術(shù)影響力和認(rèn)可度。此外，該刊創(chuàng)刊時(shí)間：1963年，影響因子：5，出版周期：Quarterly、出版商：Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.以及收錄情況等信息也為其學(xué)術(shù)影響力提供了有力支持。
影響因子：是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報(bào)告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項(xiàng)數(shù)據(jù)，現(xiàn)已成為國際上通用的期刊評(píng)價(jià)指標(biāo)，不僅是一種測(cè)度期刊有用性和顯示度的指標(biāo)，而且也是測(cè)度期刊的學(xué)術(shù)水平，乃至論文質(zhì)量的重要指標(biāo)。
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