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Microscopy And Microanalysis

Microscopy And Microanalysis SCIE

顯微鏡和微量分析雜志

中科院分區(qū):4區(qū) JCR分區(qū):Q1 預計審稿周期: 一般,3-6周

《Microscopy And Microanalysis》是一本由Cambridge University Press出版商出版的工程技術國際刊物,國際簡稱為MICROSC MICROANAL,中文名稱顯微鏡和微量分析。該刊創(chuàng)刊于1997年,出版周期為Bimonthly。 《Microscopy And Microanalysis》2023年影響因子為2.9,被收錄于國際知名權威數(shù)據(jù)庫SCIE。

ISSN:1431-9276
研究方向:工程技術-材料科學:綜合
是否預警:否
E-ISSN:1435-8115
出版地區(qū):UNITED STATES
Gold OA文章占比:31.58%
語言:English
是否OA:未開放
OA被引用占比:0.1462...
出版商:Cambridge University Press
出版周期:Bimonthly
影響因子:2.9
創(chuàng)刊時間:1997
年發(fā)文量:184
雜志簡介 中科院分區(qū) JCR分區(qū) CiteScore 發(fā)文統(tǒng)計 通訊方式 相關雜志 期刊導航

Microscopy And Microanalysis 雜志簡介

《Microscopy And Microanalysis》重點專注發(fā)布工程技術-材料科學:綜合領域的新研究,旨在促進和傳播該領域相關的新技術和新知識。鼓勵該領域研究者詳細地發(fā)表他們的高質量實驗研究和理論結果。該雜志創(chuàng)刊至今,在工程技術-材料科學:綜合領域,有較高影響力,對來稿文章質量要求較高,稿件投稿過審難度較大。歡迎廣大同領域研究者投稿該雜志。

Microscopy And Microanalysis 雜志中科院分區(qū)

中科院SCI分區(qū)數(shù)據(jù)
中科院SCI期刊分區(qū)(2023年12月升級版)
大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術 4區(qū) MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY 材料科學:綜合 MICROSCOPY 顯微鏡技術 4區(qū) 4區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2022年12月升級版)
大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術 4區(qū) MICROSCOPY 顯微鏡技術 MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY 材料科學:綜合 3區(qū) 4區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2021年12月舊的升級版)
大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術 4區(qū) MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY 材料科學:綜合 MICROSCOPY 顯微鏡技術 4區(qū) 4區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2021年12月基礎版)
大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術 3區(qū) MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY 材料科學:綜合 MICROSCOPY 顯微鏡技術 4區(qū) 2區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2021年12月升級版)
大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術 4區(qū) MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY 材料科學:綜合 MICROSCOPY 顯微鏡技術 4區(qū) 4區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2020年12月舊的升級版)
大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術 3區(qū) MICROSCOPY 顯微鏡技術 MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY 材料科學:綜合 2區(qū) 3區(qū)
中科院分區(qū)趨勢圖
影響因子趨勢圖

中科院JCR分區(qū):中科院JCR期刊分區(qū)(又稱分區(qū)表、分區(qū)數(shù)據(jù))是中國科學院文獻情報中心世界科學前沿分析中心的科學研究成果,是衡量學術期刊影響力的一個重要指標,一般而言,發(fā)表在1區(qū)和2區(qū)的SCI論文,通常被認為是該學科領域的比較重要的成果。

影響因子:是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項數(shù)據(jù),現(xiàn)已成為國際上通用的期刊評價指標,不僅是一種測度期刊有用性和顯示度的指標,而且也是測度期刊的學術水平,乃至論文質量的重要指標。

Microscopy And Microanalysis 雜志JCR分區(qū)

Web of Science 數(shù)據(jù)庫(2023-2024年最新版)
按JIF指標學科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學科:MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY SCIE Q3 220 / 438

49.9%

學科:MICROSCOPY SCIE Q1 1 / 8

93.8%

按JCI指標學科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學科:MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY SCIE Q2 197 / 438

55.14%

學科:MICROSCOPY SCIE Q4 7 / 8

18.75%

Microscopy And Microanalysis CiteScore 評價數(shù)據(jù)(2024年最新版)

  • CiteScore:1.1
  • SJR:0.387
  • SNIP:0.475

CiteScore 排名

學科類別 分區(qū) 排名 百分位
大類:Physics and Astronomy 小類:Instrumentation Q4 124 / 141

12%

CiteScore趨勢圖
年發(fā)文量趨勢圖

CiteScore:是由Elsevier2016年發(fā)布的一個評價學術期刊質量的指標,該指標是指期刊發(fā)表的單篇文章平均被引用次數(shù)。CiteScore和影響因子的作用是一樣的,都是可以體現(xiàn)期刊質量的重要指標,給選刊的作者了解期刊水平提供幫助。

Microscopy And Microanalysis 雜志發(fā)文統(tǒng)計

文章名稱引用次數(shù)

  • Four-Dimensional Scanning Transmission Electron Microscopy (4D-STEM): From Scanning Nanodiffraction to Ptychography and Beyond39
  • High Throughput Quantitative Metallography for Complex Microstructures Using Deep Learning: A Case Study in Ultrahigh Carbon Steel18
  • Identification of Medicinally Used Flora Using Pollen Features Imaged in the Scanning Electron Microscopy in the Lower Margalla Hills Islamabad Pakistan13
  • Extracting Grain Orientations from EBSD Patterns of Polycrystalline Materials Using Convolutional Neural Networks10
  • Fabrication of Atom Probe Tomography Specimens from Nanoparticles Using a Fusible Bi-In-Sn Alloy as an Embedding Medium8
  • Atom Probe Tomography Interlaboratory Study on Clustering Analysis in Experimental Data Using the Maximum Separation Distance Approach7
  • Quantification Challenges for Atom Probe Tomography of Hydrogen and Deuterium in Zircaloy-47
  • Evaluation and Microanalysis of Parasitic and Bacterial Agents of Egyptian Fresh Sushi, Salmo salar7
  • Description of Ore Particles from X-Ray Microtomography (XMT) Images, Supported by Scanning Electron Microscope (SEM)-Based Image Analysis7
  • An Automated Computational Approach for Complete In-Plane Compositional Interface Analysis by Atom Probe Tomography6

國家/地區(qū)發(fā)文量

  • USA94
  • CHINA MAINLAND48
  • GERMANY (FED REP GER)43
  • England29
  • India25
  • Australia22
  • Egypt21
  • France16
  • Japan16
  • Netherlands16

機構發(fā)文發(fā)文量

  • ASSIUT UNIVERSITY17
  • UNITED STATES DEPARTMENT OF ENERGY (DOE)17
  • CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE (CNRS)12
  • UNIVERSITY OF BELGRADE12
  • HELMHOLTZ ASSOCIATION10
  • UNIVERSITY OF OXFORD10
  • CHINESE ACADEMY OF SCIENCES9
  • MAX PLANCK SOCIETY8
  • MCGILL UNIVERSITY8
  • NATIONAL INSTITUTE OF STANDARDS & TECHNOLOGY (NIST) - USA8

Microscopy And Microanalysis 雜志社通訊方式

《Microscopy And Microanalysis》雜志通訊方式為:CAMBRIDGE UNIV PRESS, 32 AVENUE OF THE AMERICAS, NEW YORK, USA, NY, 10013-2473。詳細征稿細則請查閱雜志社征稿要求。本站可提供SCI投稿輔導服務,SCI檢索,確保稿件信息安全保密,合乎學術規(guī)范,詳情請咨詢客服。

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