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Ieee Instrumentation & Measurement Magazine

Ieee Instrumentation & Measurement Magazine SCIE

IEEE 儀器與測量雜志雜志

中科院分區(qū)：4區(qū) JCR分區(qū)：Q3 預計審稿周期： 12周，或約稿

《Ieee Instrumentation & Measurement Magazine》是一本由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版商出版的工程技術(shù)國際刊物，國際簡稱為IEEE INSTRU MEAS MAG，中文名稱IEEE 儀器與測量雜志。該刊創(chuàng)刊于1998年，出版周期為Quarterly。 《Ieee Instrumentation & Measurement Magazine》2023年影響因子為1.6，被收錄于國際知名權(quán)威數(shù)據(jù)庫SCIE。

ISSN：1094-6969
研究方向：工程技術(shù)-工程：電子與電氣
是否預警：否
E-ISSN：1941-0123
出版地區(qū)：UNITED STATES
Gold OA文章占比：0.00%
語言：English
是否OA：未開放
OA被引用占比：0
出版商：Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
出版周期：Quarterly
影響因子：1.6
創(chuàng)刊時間：1998
年發(fā)文量：64
雜志簡介 中科院分區(qū) JCR分區(qū) CiteScore 發(fā)文統(tǒng)計 通訊方式 相關(guān)雜志 期刊導航

Ieee Instrumentation & Measurement Magazine 雜志簡介

《Ieee Instrumentation & Measurement Magazine》重點專注發(fā)布工程技術(shù)-工程：電子與電氣領(lǐng)域的新研究，旨在促進和傳播該領(lǐng)域相關(guān)的新技術(shù)和新知識。鼓勵該領(lǐng)域研究者詳細地發(fā)表他們的高質(zhì)量實驗研究和理論結(jié)果。該雜志創(chuàng)刊至今，在工程技術(shù)-工程：電子與電氣領(lǐng)域，有較高影響力，對來稿文章質(zhì)量要求較高，稿件投稿過審難度較大。歡迎廣大同領(lǐng)域研究者投稿該雜志。

Ieee Instrumentation & Measurement Magazine 雜志中科院分區(qū)

中科院SCI分區(qū)數(shù)據(jù)
中科院SCI期刊分區(qū)（2023年12月升級版）
大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 4區(qū) 4區(qū) 否 否
中科院SCI期刊分區(qū)（2022年12月升級版）
大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 4區(qū) 4區(qū) 否 否
中科院SCI期刊分區(qū)（2021年12月舊的升級版）
大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 4區(qū) 4區(qū) 否 否
中科院SCI期刊分區(qū)（2021年12月基礎(chǔ)版）
大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 4區(qū) 4區(qū) 否 否
中科院SCI期刊分區(qū)（2021年12月升級版）
大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 4區(qū) 4區(qū) 否 否
中科院SCI期刊分區(qū)（2020年12月舊的升級版）
大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 4區(qū) 4區(qū) 否 否
中科院分區(qū)趨勢圖
影響因子趨勢圖

中科院JCR分區(qū)：中科院JCR期刊分區(qū)（又稱分區(qū)表、分區(qū)數(shù)據(jù)）是中國科學院文獻情報中心世界科學前沿分析中心的科學研究成果，是衡量學術(shù)期刊影響力的一個重要指標，一般而言，發(fā)表在1區(qū)和2區(qū)的SCI論文，通常被認為是該學科領(lǐng)域的比較重要的成果。

影響因子：是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項數(shù)據(jù)，現(xiàn)已成為國際上通用的期刊評價指標，不僅是一種測度期刊有用性和顯示度的指標，而且也是測度期刊的學術(shù)水平，乃至論文質(zhì)量的重要指標。

Ieee Instrumentation & Measurement Magazine 雜志JCR分區(qū)

Web of Science 數(shù)據(jù)庫（2023-2024年最新版）
按JIF指標學科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q3 239 / 352

32.2%
學科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q3 48 / 76

37.5%
按JCI指標學科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q3 200 / 354

43.64%
學科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q3 46 / 76

40.13%

Ieee Instrumentation & Measurement Magazine CiteScore 評價數(shù)據(jù)（2024年最新版）

  • CiteScore：4.2
  • SJR：0.496
  • SNIP：0.763

CiteScore 排名

學科類別 分區(qū) 排名 百分位
大類：Engineering 小類：Electrical and Electronic Engineering Q2 312 / 797

60%
大類：Engineering 小類：Instrumentation Q2 56 / 141

60%
CiteScore趨勢圖
年發(fā)文量趨勢圖

CiteScore：是由Elsevier2016年發(fā)布的一個評價學術(shù)期刊質(zhì)量的指標，該指標是指期刊發(fā)表的單篇文章平均被引用次數(shù)。CiteScore和影響因子的作用是一樣的，都是可以體現(xiàn)期刊質(zhì)量的重要指標，給選刊的作者了解期刊水平提供幫助。

Ieee Instrumentation & Measurement Magazine 雜志發(fā)文統(tǒng)計

文章名稱引用次數(shù)

  • Internet of Things for Smart Ports: Technologies and Challenges32
  • The Fourth Industrial Revolution - Industry 4.0 and IoT10
  • Contaminants detection and classification through a customized IoT-based platform: A case study7
  • IoT for Structural Health Monitoring5
  • Deep Learning-Based Hand Gesture Recognition for Collaborative Robots5
  • A Concrete Architecture for Smart Solutions based on IoT Technologies5
  • Ultrasound-Guided Minimally Invasive Grinding for Clearing Blood Clots: Promises and Challenges5
  • A New Low Cost Power Line Communication Solution for Smart Grid Monitoring and Management5
  • Academic FabLabs for Industry 4.0: Experience at University of Naples Federico II4
  • The Units for Mass, Voltage, Resistance, and Electrical Current in the SI4

國家/地區(qū)發(fā)文量

  • Italy69
  • USA59
  • France19
  • England16
  • CHINA MAINLAND11
  • New Zealand11
  • Canada10
  • GERMANY (FED REP GER)10
  • Spain10
  • Malaysia7

機構(gòu)發(fā)文發(fā)文量

  • UNIVERSITY OF CATANIA23
  • NATIONAL INSTITUTE OF STANDARDS & TECHNOLOGY (NIST) - USA14
  • IEEE13
  • AMER PHYS SOC8
  • BIPM6
  • UNIVERSITY OF OTTAWA6
  • UNIVERSITY OF SALENTO6
  • I&M SOC5
  • INT BUR WEIGHTS & MEASURES BIPM5
  • TECH COMM MEASUREMENTS & NETWORKING TC 375

Ieee Instrumentation & Measurement Magazine 雜志社通訊方式

《Ieee Instrumentation & Measurement Magazine》雜志通訊方式為：IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141。詳細征稿細則請查閱雜志社征稿要求。本站可提供SCI投稿輔導服務(wù)，SCI檢索，確保稿件信息安全保密，合乎學術(shù)規(guī)范，詳情請咨詢客服。

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