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Mapan-journal Of Metrology Society Of India

Mapan-journal Of Metrology Society Of India SCIE

印度計量學會馬潘雜志雜志

中科院分區(qū)：4區(qū) JCR分區(qū)：Q4 預(yù)計審稿周期： 12周，或約稿

《Mapan-journal Of Metrology Society Of India》是一本由Springer India出版商出版的工程技術(shù)國際刊物，國際簡稱為MAPAN-J METROL SOC I，中文名稱印度計量學會馬潘雜志。該刊創(chuàng)刊于2009年，出版周期為Quarterly。 《Mapan-journal Of Metrology Society Of India》2023年影響因子為1，被收錄于國際知名權(quán)威數(shù)據(jù)庫SCIE。

ISSN：0970-3950
研究方向：工程技術(shù)-物理：應(yīng)用
是否預(yù)警：否
E-ISSN：0974-9853
出版地區(qū)：INDIA
Gold OA文章占比：3.23%
語言：English
是否OA：未開放
OA被引用占比：0
出版商：Springer India
出版周期：Quarterly
影響因子：1
創(chuàng)刊時間：2009
年發(fā)文量：98
雜志簡介 中科院分區(qū) JCR分區(qū) CiteScore 發(fā)文統(tǒng)計 通訊方式 相關(guān)雜志 期刊導(dǎo)航

Mapan-journal Of Metrology Society Of India 雜志簡介

《Mapan-journal Of Metrology Society Of India》重點專注發(fā)布工程技術(shù)-物理：應(yīng)用領(lǐng)域的新研究，旨在促進和傳播該領(lǐng)域相關(guān)的新技術(shù)和新知識。鼓勵該領(lǐng)域研究者詳細地發(fā)表他們的高質(zhì)量實驗研究和理論結(jié)果。該雜志創(chuàng)刊至今，在工程技術(shù)-物理：應(yīng)用領(lǐng)域，有較高影響力，對來稿文章質(zhì)量要求較高，稿件投稿過審難度較大。歡迎廣大同領(lǐng)域研究者投稿該雜志。

Mapan-journal Of Metrology Society Of India 雜志中科院分區(qū)

中科院SCI分區(qū)數(shù)據(jù)
中科院SCI期刊分區(qū)（2023年12月升級版）
大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 4區(qū) INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用 4區(qū) 4區(qū) 否 否
中科院SCI期刊分區(qū)（2022年12月升級版）
大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 4區(qū) INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用 4區(qū) 4區(qū) 否 否
中科院SCI期刊分區(qū)（2021年12月舊的升級版）
大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 4區(qū) INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用 4區(qū) 4區(qū) 否 否
中科院SCI期刊分區(qū)（2021年12月基礎(chǔ)版）
大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 4區(qū) INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用 4區(qū) 4區(qū) 否 否
中科院SCI期刊分區(qū)（2021年12月升級版）
大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 4區(qū) INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用 4區(qū) 4區(qū) 否 否
中科院SCI期刊分區(qū)（2020年12月舊的升級版）
大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 4區(qū) INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用 4區(qū) 4區(qū) 否 否
中科院分區(qū)趨勢圖
影響因子趨勢圖

中科院JCR分區(qū)：中科院JCR期刊分區(qū)（又稱分區(qū)表、分區(qū)數(shù)據(jù)）是中國科學院文獻情報中心世界科學前沿分析中心的科學研究成果，是衡量學術(shù)期刊影響力的一個重要指標，一般而言，發(fā)表在1區(qū)和2區(qū)的SCI論文，通常被認為是該學科領(lǐng)域的比較重要的成果。

影響因子：是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項數(shù)據(jù)，現(xiàn)已成為國際上通用的期刊評價指標，不僅是一種測度期刊有用性和顯示度的指標，而且也是測度期刊的學術(shù)水平，乃至論文質(zhì)量的重要指標。

Mapan-journal Of Metrology Society Of India 雜志JCR分區(qū)

Web of Science 數(shù)據(jù)庫（2023-2024年最新版）
按JIF指標學科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q4 62 / 76

19.1%
學科：PHYSICS, APPLIED SCIE Q4 157 / 179

12.6%
按JCI指標學科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q4 68 / 76

11.18%
學科：PHYSICS, APPLIED SCIE Q4 152 / 179

15.36%

Mapan-journal Of Metrology Society Of India CiteScore 評價數(shù)據(jù)（2024年最新版）

  • CiteScore：2.3
  • SJR：0.263
  • SNIP：0.61

CiteScore 排名

學科類別 分區(qū) 排名 百分位
大類：Physics and Astronomy 小類：Physics and Astronomy (miscellaneous) Q2 40 / 81

51%
CiteScore趨勢圖
年發(fā)文量趨勢圖

CiteScore：是由Elsevier2016年發(fā)布的一個評價學術(shù)期刊質(zhì)量的指標，該指標是指期刊發(fā)表的單篇文章平均被引用次數(shù)。CiteScore和影響因子的作用是一樣的，都是可以體現(xiàn)期刊質(zhì)量的重要指標，給選刊的作者了解期刊水平提供幫助。

Mapan-journal Of Metrology Society Of India 雜志發(fā)文統(tǒng)計

文章名稱引用次數(shù)

  • Role of National Pressure and Vacuum Metrology in Indian Industrial Growth and Their Global Metrological Equivalence6
  • Contributions of National Standards on the growth of Barometric Pressure and Vacuum Industries5
  • Epidemiological Study on Respiratory Health of School Children of Rural Sites of Malwa Region (India) During Post-harvest Stubble Burning Events5
  • A Non-destructive FTIR Method for the Determination of Ammonium and Sulfate in Urban PM2.5 Samples4
  • Performance Analysis of Hybrid Optical Amplifiers for Super Dense Wavelength Division Multiplexing System in the Scenario of Reduced Channel Spacing4
  • FEA-Based Design Studies for Development of Diaphragm Force Transducers4
  • Reconstruction Method Adopting Laser Plane Generated from RANSAC and Three Dimensional Reference3
  • Investigations on Metaheuristic Algorithm for Designing Adaptive PID Controller for Continuous Stirred Tank Reactor3
  • Signal Averaging for Noise Reduction in Mobile Robot 3D Measurement System3
  • Development and Realization of Iron-Carbon Eutectic Fixed Point at NPLI2

國家/地區(qū)發(fā)文量

  • India98
  • CHINA MAINLAND22
  • Egypt14
  • Indonesia6
  • Turkey6
  • Iran5
  • Italy5
  • South Korea5
  • Lithuania4
  • Malaysia4

機構(gòu)發(fā)文發(fā)文量

  • COUNCIL OF SCIENTIFIC & INDUSTRIAL RESEARCH (CSIR) - INDIA57
  • CSIR - NATIONAL PHYSICAL LABORATORY (NPL)53
  • ACADEMY OF SCIENTIFIC & INNOVATIVE RESEARCH (ACSIR)26
  • NATIONAL INSTITUTE FOR STANDARDS (NIS)14
  • NATIONAL INSTITUTE OF TECHNOLOGY (NIT SYSTEM)14
  • INDIAN INSTITUTE OF TECHNOLOGY SYSTEM (IIT SYSTEM)12
  • THAPAR INSTITUTE OF ENGINEERING & TECHNOLOGY7
  • ISTITUTO NAZIONALE DI RICERCA METROLOGICA (INRIM)5
  • KAUNAS UNIVERSITY OF TECHNOLOGY4
  • KOREA RESEARCH INSTITUTE OF STANDARDS & SCIENCE (KRISS)4

Mapan-journal Of Metrology Society Of India 雜志社通訊方式

《Mapan-journal Of Metrology Society Of India》雜志通訊方式為：METROLOGY SOC INDIA, NPL PREMISES, DR K S KRISHNAN MARG, NEW DELHI, INDIA, 110 012。詳細征稿細則請查閱雜志社征稿要求。本站可提供SCI投稿輔導(dǎo)服務(wù)，SCI檢索，確保稿件信息安全保密，合乎學術(shù)規(guī)范，詳情請咨詢客服。

免責聲明

若用戶需要出版服務(wù)，請聯(lián)系出版商：METROLOGY SOC INDIA, NPL PREMISES, DR K S KRISHNAN MARG, NEW DELHI, INDIA, 110 012。